产品介绍

HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。

无接触式电阻率型号测试仪-产品特点

测试范围广，低阻可测至0.001ohmNaN，甚至0.0007ohmNaN,高阻可测至100ohmNaN

产品体积小，便于移动和携带

采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率

无接触、无损伤快速测试

测试前无需表面处理

特别对于多晶，能够有效避免晶界对测试的影响

测试范围：0.001-100 ohmNaN (分段测试）

可选加无接触PN型号测试功能

可进行温度和厚度的修正

无接触式电阻率型号测试仪-技术指标

硅棒硅块可测量电阻率范围：0.001-100OhmNaN

小测试厚度：200μm

测量时间：2秒/次

小测试面积：30x30 mm2

推荐使用温度：20

湿度：80%

气压：86-106kPa

使用电压：230±10V

频率，50±3Hz

功率消耗：5W

尺寸（LxWxH）：280x200x60mm

典型客户

美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。